Počet záznamů: 1

Novel approach to material evaluation of thin surface layers by resonant ultrasound spectroscopy

SYSNO	0342304
Název	Novel approach to material evaluation of thin surface layers by resonant ultrasound spectroscopy
Tvůrce(i)	Landa, Michal (UT-L)_RID Růžek, Michal (UT-L) Sedlák, Petr (UT-L)_{RID, ORCID} Seiner, Hanuš (UT-L)_{RID, ORCID} Bodnárová, Lucie (UT-L)_{RID, ORCID} Zídek, Jan (UT-L)_RID
Zdroj.dok.	Journal of Physics: Conference Series. Roč. 214, č. 1 (2010), s. 1-5. - : Institute of Physics Publishing
Konference	International Conference on Photoacoustic and Photothermal Phenomena /15./, Leuven, 19.07.2009-23.07.2009
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	GA101/09/0702 GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika
CEZ	AV0Z20760514 - UT-L (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	BE
Klíč.slova	resonant ultrasound spectroscopy (RUS) * thin films * DLC
URL	http://iopscience.iop.org/1742-6596/214/1/012045/
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0185069

Počet záznamů: 1