Počet záznamů: 1
New insights on atomic-resolution frequency-modulation Kelvin-probe force-microscopy imaging of semiconductors
- 1.
SYSNO 0339531 Název New insights on atomic-resolution frequency-modulation Kelvin-probe force-microscopy imaging of semiconductors Tvůrce(i) Sadewasser, S. (DE)
Jelínek, Pavel (FZU-D) RID, ORCID
Fang, Ch.-K. (JP)
Custance, Ó. (JP)
Yamada, Y. (JP)
Sugimoto, Y. (JP)
Abe, M. (JP)
Morita, S. (JP)Zdroj.dok. Physical Review Letters. Roč. 103, č. 26 (2009), 266103/1-266103/4. - : American Physical Society Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant GA202/09/0545 GA ČR - Grantová agentura ČR IAA100100905 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova KPFM * atomic force microscopy * DFT * atomic resolution * semiconductor surface Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0183034
Počet záznamů: 1