Počet záznamů: 1
Advanced x-ray optics with Si wafers and slumped glass
- 1.
SYSNO 0337793 Název Advanced x-ray optics with Si wafers and slumped glass Tvůrce(i) Hudec, René (ASU-R) RID, ORCID
Maršíková, V. (CZ)
Míka, M. (CZ)
Sik, J. (CZ)
Lorenz, M. (CZ)
Pína, L. (CZ)
Inneman, A. (CZ)
Skulinová, Michaela (ASU-R)Zdroj.dok. Optics for EUV, X-Ray, and Gamma-Ray Astronomy IV. 74370S-1-74370S-12. - Bellingham : SPIE, 2009 / O'Dell S. Konference Optics for EUV, X-Ray, and Gamma-Ray Astronomy /4./, San Diego, 31.08.2009-31.08.2009 Druh dok. Konferenční příspěvek (zahraniční konf.) Grant GP202/07/P510 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z10030501 - ASU-R (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. US Klíč.slova x-ray optics * Si wafers URL http://dx.doi.org/10.1117/12.827978 Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0181714
Počet záznamů: 1