Počet záznamů: 1

Laser sources at 760 nm wavelength for metrology of length

SYSNO	0336817
Název	Laser sources at 760 nm wavelength for metrology of length
Tvůrce(i)	Mikel, Břetislav (UPT-D)_{RID, SAI} Buchta, Zdeněk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Lazar, Josef (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Číp, Ondřej (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Zdroj.dok.	Africon 2009. 5308091: 1-6. - Los Alamitos : IEEE, 2009
Konference	Africon 2009, Nairobi, 23.09.2009-25.09.2009
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	LC06007 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	2C06012 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	KAN311610701 GA AV ČR - Akademie věd
	2A-1TP1/127 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu
	FT-TA3/133 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu
	2A-3TP1/113 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu
	GA102/07/1179 GA ČR - Grantová agentura ČR
	GP102/09/P293 GA ČR - Grantová agentura ČR
	GP102/09/P630 GA ČR - Grantová agentura ČR
	GA102/09/1276 GA ČR - Grantová agentura ČR
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	US
Klíč.slova	laser interferometry * absolute measurement * tunable laser diodes
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0180969

Počet záznamů: 1