Počet záznamů: 1
Profiling of N-Type Dopants in Silicon Based Structures
- 1.
SYSNO 0335293 Název Profiling of N-Type Dopants in Silicon Based Structures Tvůrce(i) Hovorka, Miloš (UPT-D)
Mika, Filip (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Mikulík, P. (CZ)Zdroj.dok. Proceedings of the 4th Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology (CJCS’09). S. 14. - Brno : ISI AS CR, 2009 / Pokorná Zuzana ; Mika Filip Konference CJCS’09 - Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology /4./, Brno, 10.08.2009-14.08.2009 Druh dok. Konferenční příspěvek (zahraniční konf.) Grant GP102/09/P543 GA ČR - Grantová agentura ČR IAA100650803 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. CZ Klíč.slova n-type substrate * SEM * PEEM * doping levels Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0179799
Počet záznamů: 1