Počet záznamů: 1
Damage in solids irradiated by a single shot of XUV free-electron laser: irreversible changes investigated using X-ray microdiffraction, atomic force microscopy and Nomarski optical microscopy
- 1.
SYSNO 0334118 Název Damage in solids irradiated by a single shot of XUV free-electron laser: irreversible changes investigated using X-ray microdiffraction, atomic force microscopy and Nomarski optical microscopy Překlad názvu Poškození pevné látky ozářené jednotlivým impulzem XUV laseru s volnými elektrony: nevratné změny povrchu sledované pomocí rtg. mikrodifrakce, mikroskopie atomárních sil a Nomarského optické mikroskopie Tvůrce(i) Pelka, J. B. (PL)
Sobierajski, R. (PL)
Klinger, D. (PL)
Paszkowicz, W. (PL)
Krzywinski, J. (PL)
Jurek, M. (PL)
Zymierska, D. (PL)
Wawro, A. (PL)
Petroutchik, A. (PL)
Juha, Libor (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Hájková, Věra (FZU-D) RID, ORCID
Cihelka, Jaroslav (FZU-D)
Chalupský, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
Burian, T. (CZ)
Vyšín, Luděk (FZU-D) RID, ORCID
Toleikis, S. (DE)
Sokolowski-Tinten, K. (DE)
Stojanovic, N. (DE)
Zastrau, U. (DE)
London, R. (US)
Hau-Riege, S. (US)
Riekel, C. (FR)
Davies, R. (FR)
Burghammer, M. (FR)
Dynowska, E. (PL)
Szuszkiewicz, W. (PL)
Caliebe, W. (DE)
Nietubyc, R. (PL)Zdroj.dok. Radiation Physics and Chemistry. Roč. 78, Suppl. 10 (2009), S46-S52. - : Elsevier Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant KAN300100702 GA AV ČR - Akademie věd LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LC528 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika LA08024 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy IAA400100701 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. GB Klíč.slova XUV FEL * radiation damage * ablation * structure modifications * x-ray diffraction Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0178937
Počet záznamů: 1