Počet záznamů: 1  

Collection of secondary electrons in scanning electron microscopes

  1. 1.
    SYSNO0333617
    NázevCollection of secondary electrons in scanning electron microscopes
    Tvůrce(i) Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Konvalina, Ivo (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Zdroj.dok. Journal of Microscopy. Roč. 236, č. 3 (2009), s. 203-210. - : Wiley
    Druh dok.Článek v odborném periodiku
    Grant OE08012 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    IAA100650803 GA AV ČR - Akademie věd
    CEZAV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
    Jazyk dok.eng
    Země vyd.GB
    Klíč.slova detection of electrons * magnetic lenses * secondary electrons * SEM
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0178559
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.