Počet záznamů: 1
Collection of secondary electrons in scanning electron microscopes
- 1.
SYSNO 0333617 Název Collection of secondary electrons in scanning electron microscopes Tvůrce(i) Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Konvalina, Ivo (UPT-D) RID, ORCID, SAIZdroj.dok. Journal of Microscopy. Roč. 236, č. 3 (2009), s. 203-210. - : Wiley Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant OE08012 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy IAA100650803 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. GB Klíč.slova detection of electrons * magnetic lenses * secondary electrons * SEM Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0178559
Počet záznamů: 1