Počet záznamů: 1
Structure and stability of semiconductor tip apexes for atomic force microscopy
- 1.
SYSNO 0328715 Název Structure and stability of semiconductor tip apexes for atomic force microscopy Překlad názvu Struktura a stabilita polovodičových hrotů pro mikroskop atomárních sil Tvůrce(i) Pou, P. (ES)
Ghasemi, S.A. (CH)
Jelínek, Pavel (FZU-D) RID, ORCID
Lenosky, T. (US)
Goedecker, S. (CH)
Perez, R. (ES)Zdroj.dok. Nanotechnology. Roč. 20, č. 26 (2009), 264015/1-264015/10. - : Institute of Physics Publishing Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant KAN400100701 GA AV ČR - Akademie věd IAA100100905 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. GB Klíč.slova AFM * first principles simulations * DFT * force spectroscopy Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0174960
Počet záznamů: 1