Počet záznamů: 1
Crystallographic properties of grain size-controlled polycrystalline silicon thin films deposited on alumina substrate
- 1.
SYSNO 0324621 Název Crystallographic properties of grain size-controlled polycrystalline silicon thin films deposited on alumina substrate Překlad názvu Krystalografické vlastnosti tenkých vrstev polykrystalického křemíku s řízenou velikostí zrna na safírových podložkách Tvůrce(i) Ogane, A. (JP)
Honda, Shinya (FZU-D)
Uraoka, Y. (JP)
Fuyuki, T. (JP)
Fejfar, Antonín (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Kočka, Jan (FZU-D) RID, ORCID, SAIZdroj.dok. Journal of Crystal Growth. Roč. 311, č. 3 (2009), s. 789-793. - : Elsevier Druh dok. Článek v odborném periodiku CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. NL Klíč.slova crystallites * defects * chemical vapor deposition processes * solar cells Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0172268
Počet záznamů: 1