Crystallographic properties of grain size-controlled polycrystalline silicon thin films deposited on alumina substrate

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0324621
Název	Crystallographic properties of grain size-controlled polycrystalline silicon thin films deposited on alumina substrate
Překlad názvu	Krystalografické vlastnosti tenkých vrstev polykrystalického křemíku s řízenou velikostí zrna na safírových podložkách
Tvůrce(i)	Ogane, A. (JP) Honda, Shinya (FZU-D) Uraoka, Y. (JP) Fuyuki, T. (JP) Fejfar, Antonín (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Kočka, Jan (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Journal of Crystal Growth. Roč. 311, č. 3 (2009), s. 789-793. - : Elsevier
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
CEZ	AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	NL
Klíč.slova	crystallites * defects * chemical vapor deposition processes * solar cells
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0172268

Počet záznamů: 1