Počet záznamů: 1
Preparation of location-specific thin foils from Fe-3%Si bi- and tri- crystals for examination in a FEG-STEM
- 1.
SYSNO 0322208 Název Preparation of location-specific thin foils from Fe-3%Si bi- and tri- crystals for examination in a FEG-STEM Překlad názvu Příprava lokalizovaných tenkých folií z bi- a trikrystalů Fe-3%Si pro FEG-STEM vyšetřování Tvůrce(i) Sorbello, F. (GB)
Hughes, G.M. (GB)
Lejček, Pavel (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Heard, P.J. (GB)
Flewitt, P.E.J. (GB)Zdroj.dok. Ultramicroscopy. Roč. 109, č. 2 (2009), 147-153. - : Elsevier Druh dok. Článek v odborném periodiku Grant IAA1010414 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100520 - FZU-D (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. NL Klíč.slova FEG-STEM * Fe-3%Si * Thin foils * focused ion beam Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0170530
Počet záznamů: 1