Charakterizace strukturních a elektrických vlastností organických heterostruktur skenovacími rastrovacími metodami

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0320868
Název	Charakterizace strukturních a elektrických vlastností organických heterostruktur skenovacími rastrovacími metodami
Překlad názvu	Characterization of structural and electronic properties of organic heterostructures by scanning probe techniques
Tvůrce(i)	Čermák, Jan (FZU-D)_{RID, SAI, ORCID} Rezek, Bohuslav (FZU-D)_{RID, ORCID} Cimrová, Věra (UMCH-V)_{RID, ORCID} Hörhold, H. H. (DE) Ledinský, Martin (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Fejfar, Antonín (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Sborník příspěvků ze 3. České fotovoltaické konference. S. 31-33. - Rožnov pod Radhoštěm : Czech RE Agency, 2008
Konference	Česká fotovoltaická konference /3./, Brno, 03.11.2008-05.11.2008
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	LC06040 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
	KAN400100701 GA AV ČR - Akademie věd
	LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	GD202/05/H003 GA ČR - Grantová agentura ČR, CZ - Česká republika
CEZ	AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011)
	AV0Z40500505 - UMCH-V (2005-2011)
Jazyk dok.	cze
Země vyd.	CZ
Klíč.slova	AFM * KFM * Raman scattering * organic semiconductors * photovoltaics
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0169605

Počet záznamů: 1