Počet záznamů: 1
Atomic force microscopy and atomic force acoustic microscopy characterization of photo-induced changes in some Ge-As-S amorphous films
- 1.
SYSNO 0320025 Název Atomic force microscopy and atomic force acoustic microscopy characterization of photo-induced changes in some Ge-As-S amorphous films Překlad názvu Charakterizace fotoindukovaných změn v amorfních filmech Ge-As-S pomocí AFM a AFAM Tvůrce(i) Knotek, P. (CZ)
Tichý, Ladislav (UMCH-V) RIDZdroj.dok. Thin Solid Films. Roč. 517, č. 5 (2009), s. 1837-1840. - : Elsevier Druh dok. Článek v odborném periodiku CEZ AV0Z40500505 - UMCH-V (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. NL Klíč.slova amorphous materials Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0169011
Počet záznamů: 1