RBS, UV-VIS and XPS characterization of 40 keV Ni+ implanted PEEK, PET and PI

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0315789
Název	RBS, UV-VIS and XPS characterization of 40 keV Ni+ implanted PEEK, PET and PI
Překlad názvu	RBS, UV-VIS a XPS charakterizace Ni+ 40 keV implantovaných polymerů PEEK, PET a PI
Tvůrce(i)	Macková, Anna (UJF-V)_{RID, ORCID, SAI} Bočan, Jiří (UJF-V) Khaibullin, R. I. (RU) Švorčík, V. (CZ) Slepička, P. (CZ) Siegel, J. (CZ) Valeev, V. F. (RU)
Zdroj.dok.	16th International Conference on Ion Beam Modification of Materials Book of Abstracts. S. 317-317. - Dresden : Institute of Ion Beam Physics and Materials Research, Forschungzentrum Dresden-Rossendorf, 2008
Konference	16th International Conference on Ion Beam Modification of Materials, Dresden, 31.08.2008-05.09.2008
Druh dok.	A2
Grant	KJB100480601 GA AV ČR - Akademie věd, CZ - Česká republika
	LC06041 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy, CZ - Česká republika
CEZ	AV0Z10480505 - UJF-V (2005-2011)
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	DE
Klíč.slova	ion implantation in polymers * TRIDYN * Ion Beam Analysis * UV-VIS, XPS
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0165889

Počet záznamů: 1