Počet záznamů: 1
SHIM and TPEM: Getting More Information from Non Linear Excitation
- 1.
SYSNO 0313399 Název SHIM and TPEM: Getting More Information from Non Linear Excitation Překlad názvu SHIM a TPFM: více informace z nelineární excitace Tvůrce(i) Bianchini, P. (IT)
Vicidomini, G. (IT)
Mondal, P. P. (IT)
Ramoino, P. (IT)
Usai, C. (IT)
Janáček, Jiří (FGU-C) RID, ORCID
Kubínová, Lucie (FGU-C) RID, ORCID
Diaspro, A. (IT)Zdroj.dok. Focus on Microscopy. S. 136-136. - Valencia : University of Valencia, 2007 Konference Focus on Microscopy FOM 2007, Valencia, 10.04.2007-13.04.2007 Druh dok. Abstrakt CEZ AV0Z50110509 - FGU-C (2005-2011) Jazyk dok. eng Země vyd. ES Klíč.slova spr2 * SHIM * SHG * TPEF Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0164229
Počet záznamů: 1