Evaluation of GaAs and InP MSM detection of pulsed X-ray emission from laser plasmas

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO	0134620
Název	Evaluation of GaAs and InP MSM detection of pulsed X-ray emission from laser plasmas
Tvůrce(i)	Ryc, L. (PL) Dubecky, F. (SK) Pfeifer, Miroslav (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Pura, B. (PL) Riesz, F. (HU) Slysz, W. (PL)
Zdroj.dok.	Proceedings of the Semiconducting and Insulating Materials Conference (SIMC-XII). s. x-x. - Bratislava : XX, 2002
Konference	Semiconducting and Insulating Materials Conference /12./, Smolenice Castle, 30.06.2002-05.07.2002
Druh dok.	Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Grant	LN00A100 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
CEZ	AV0Z1010921 - FZU-D
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	SK
Klíč.slova	x-ray diagnostics * time characteristics * semiconductor detectors
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0032516

Počet záznamů: 1