Počet záznamů: 1

Optical refraction index and polarization profile of ferroelectric thin films

SYSNO	0133868
Název	Optical refraction index and polarization profile of ferroelectric thin films
Tvůrce(i)	Glinchuk, M. D. (UA) Eliseev, E. A. (UA) Deineka, Alexander (FZU-D) Jastrabík, Lubomír (FZU-D)_{RID, ORCID} Suchaneck, G. (DE) Sandner, T. (DE) Gerlach, G. (DE) Hrabovský, Miroslav (FZU-D)_{RID, ORCID}
Zdroj.dok.	Integrated Ferroelectrics. Roč. 38, 1-4 (2001), s. 101-110
Druh dok.	Článek v odborném periodiku
Grant	LN00A015 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	GA202/00/1425 GA ČR - Grantová agentura ČR
CEZ	AV0Z1010914 - FZU-D
Jazyk dok.	eng
Země vyd.	GB
Klíč.slova	thin film * refraction index * polarization * film thickness
Trvalý link	http://hdl.handle.net/11104/0031819

Počet záznamů: 1