Počet záznamů: 1  

Kontrast dopovaných oblastí v polovodiči zobrazený sekundárními elektrony v SEM

  1. 1.
    SYSNO0050961
    NázevKontrast dopovaných oblastí v polovodiči zobrazený sekundárními elektrony v SEM
    Překlad názvuDopant contrast imaged with SE in SEM
    Tvůrce(i) Mika, Filip (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Zdroj.dok. Mikroskopie 2006. S. 37. - Praha : Československá mikroskopická společnost, 2006
    Konference Mikroskopie 2006, Nové Město na Moravě, 16.02.2006-17.02.2006
    Druh dok.Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
    CEZAV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
    Jazyk dok.cze
    Země vyd.CZ
    Klíč.slova dopant contrast * SEM
    Trvalý linkhttp://hdl.handle.net/11104/0140970
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.