Počet záznamů: 1
Kontrast dopovaných oblastí v polovodiči zobrazený sekundárními elektrony v SEM
- 1.
SYSNO 0050961 Název Kontrast dopovaných oblastí v polovodiči zobrazený sekundárními elektrony v SEM Překlad názvu Dopant contrast imaged with SE in SEM Tvůrce(i) Mika, Filip (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDZdroj.dok. Mikroskopie 2006. S. 37. - Praha : Československá mikroskopická společnost, 2006 Konference Mikroskopie 2006, Nové Město na Moravě, 16.02.2006-17.02.2006 Druh dok. Konferenční příspěvek (tuzemská konf.) CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Jazyk dok. cze Země vyd. CZ Klíč.slova dopant contrast * SEM Trvalý link http://hdl.handle.net/11104/0140970
Počet záznamů: 1