Počet záznamů: 1
Kryo-stolek a antikontaminátor pro FIB-SEM
- 1.
SYSNO ASEP 0566637 Druh ASEP L - Prototyp, funkční vzorek Zařazení RIV G - Technicky realizované výsledky (prototyp, funkční vzorek) Poddruh RIV Funkční vzorek Název Kryo-stolek a antikontaminátor pro FIB-SEM Překlad názvu Cryo-stage and anti-contaminator for FIB-SEM Tvůrce(i) Láznička, Tomáš (UPT-D) ORCID, RID, SAI
Krutil, Vojtěch (UPT-D) ORCID, RID, SAI
Krzyžánek, Vladislav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Hrubanová, Kamila (UPT-D) RID, SAI, ORCIDRok vydání 2022 Int.kód APL-2022-24 Technické parametry Kryo-stolek umožňující uchycení komerčního držáku vzorku je k posuvnému mechanismu mikroskopu připevněn pomocí centrovacích kolíků a jednoho šroubu uprostřed stolku. Otvor pro hlavičku šroubu je průchozí skrz držák, takže není nutné rozebírat celý stolek. Část stolku, do které se upevňuje držák vzorku je připevněna ke spodní podložce pomocí čtyř sloupků Antikontaminační štít vzorku je připevněn ke spodní podložce dvěma podobnými, delšími sloupky. Antikontaminační štít může být pomocí chladovodu připojen zjednodušenou cestou buď k velkému antikontaminačnímu štítu ze zadní strany nebo přímo na palec (k držáku nebo chladovodu vedoucí od palce) chladící Dewarovy nádoby. Součástí systému je měřič teploty připojený k pravé části, z levé části je připojen ohřívač, kterým můžeme regulovat teplotu vzorku. Systém je schopen dosáhnout teoretické teploty 81 K. Posuvný mechanismus i se stolkem mikroskopu je schopný náklonu do 52°, který slouží pro náklon vzorku ve směru k iontovému svazku pro kolmé obrábění svazkem k povrchu vzorku. Ekonomické parametry Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Kamila Hrubanová, Ph.D., hrubanova@isibrno.cz. Název vlastníka Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. IČ vlastníka 68081731 Kat.výsl.dle nákl. A - Vyčerpaná část nákladů <= 5 mil. Kč Požad. na licenč. popl. N - Poskytovatel licence nepožaduje licenční poplatek Číselná identifikace APL-2022-24 Jazyk dok. cze - čeština Země vlastníka CZ - Česká republika Klíč. slova Cryo-SEM ; electron microscopy ; FIB-SEM Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika Obor OECD Electrical and electronic engineering CEP TN01000008 GA TA ČR - Technologická agentura ČR Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Anotace Funkčním vzorkem je stolek mikroskopu pro umístění držáku hluboce zamražených vzorků a jejich analýzu při pozorování v rastrovacím elektronovém mikroskopu za kryogenních teplot (cryo-SEM). Rastrovací elektronový mikroskop vybavený fokusovaným iontovým svazkem (FIB-SEM) může být díky stolku použit i pro mikro obrábění různých typů vzorků v kryogenních podmínkách. Současný stolek je vybaven mechanismem pro uchycení držáku vzorků založeného na komerčním systému typu Bal-Tec nebo Leica microsystems a také anti kontaminačním štítem pro zachytávání nečistot, které by jinak dopadly na vzorek a způsobily kontaminaci jeho povrchu. Překlad anotace The functional sample is a microscope stage allowing placing the holder containing deep-frozen samples and analysing them during observation in a scanning electron microscope at cryogenic temperatures (cryo-SEM). Moreover, thanks to the stage a scanning electron microscope equipped with a focussed ion beam (FIB-SEM) can also be used for micromachining various types of samples at cryogenic conditions. The current stage is equipped with a mechanism for attaching a sample holder based on a commercial system like Bal-Tec or Leica microsystems, as well as an anti-contamination shield for picking up impurities that could cause contamination of the sample surface. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2023
Počet záznamů: 1