Počet záznamů: 1  

The multi-energetic Au ion implantation of graphene oxide and polymers

  1. 1.
    SYSNO ASEP0565866
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevThe multi-energetic Au ion implantation of graphene oxide and polymers
    Tvůrce(i) Malinský, Petr (UJF-V) RID, ORCID, SAI
    Novák, Josef (UJF-V) ORCID
    Štěpanovská, Eva (UJF-V) ORCID
    Slepička, P. (CZ)
    Švorčík, V. (CZ)
    Szokolova, K. (CZ)
    Marvan, P. (CZ)
    Sofer, Z. (CZ)
    Macková, Anna (UJF-V) RID, ORCID, SAI
    Celkový počet autorů9
    Číslo článku02006
    Zdroj.dok.EPJ Web of Conferences, 261. - Les ulis : EDP sciences, 2022
    Poč.str.9 s.
    Forma vydáníOnline - E
    AkceApplied Nuclear Physics Conference (ANPC 2021)
    Datum konání12.09.2021 - 17.09.2021
    Místo konáníPrague
    ZeměCZ - Česká republika
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.FR - Francie
    Klíč. slovaGO ; PET ; PLLA
    Obor OECDAtomic, molecular and chemical physics (physics of atoms and molecules including collision, interaction with radiation, magnetic resonances, Mössbauer effect)
    CEPGA19-02482S GA ČR - Grantová agentura ČR
    Výzkumná infrastrukturaCANAM II - 90056 - Ústav jaderné fyziky AV ČR, v. v. i.
    Institucionální podporaUJF-V - RVO:61389005
    DOI10.1051/epjconf/202226102006
    AnotaceThe electric properties of polymers are increasingly important in a wide range of applications such as sensors, energy storages, microelectronics, and filtration membranes among others. In this work, the effect of multi-energetic Au ion implantation on the graphene oxide (GO), polyimide (PI), polyethylene terephthalate (PET) and polylactide (PLLA) elemental, chemical, structural end electric properties is presented with potential application in 3D metal-dielectric structure synthetization. The three energies, 3.2, 1.6, 0.8 MeV of Au ions with fluence 3.75×1014 cm-2 were used in ascending or descending order to create two sample sets, which were subsequently analysed by RBS, ERDA, EDS and AFM. RBS analysis was used for Au-depth profile characterization in the implanted samples, the profiles agree reasonably with those simulated by SRIM code. Electrical properties were investigated by standard two-point technique with respect to the used parameters of the ion irradiation. The sheet resistance decreases after ion irradiation and it is evident that the ascending order of ion implantation energies has more significant effect on the conductivity enhancement compare to the descending one.
    PracovištěÚstav jaderné fyziky
    KontaktMarkéta Sommerová, sommerova@ujf.cas.cz, Tel.: 266 173 228
    Rok sběru2023
    Elektronická adresahttps://doi.org/10.1051/epjconf/202226102006
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.