Počet záznamů: 1  

Focused ion beam assisted prototyping of graphene/ZnO devices on Zn-polar and O-polar faces of ZnO bulk crystals

  1. 1.
    SYSNO ASEP0562514
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevFocused ion beam assisted prototyping of graphene/ZnO devices on Zn-polar and O-polar faces of ZnO bulk crystals
    Tvůrce(i) Tiagulskyi, Stanislav (URE-Y)
    Yatskiv, Roman (URE-Y) RID, ORCID
    Faitová, Hana (URE-Y)
    Černohorský, Ondřej (URE-Y)
    Vaniš, Jan (URE-Y) RID
    Grym, Jan (URE-Y)
    Celkový počet autorů6
    Číslo článku115006
    Zdroj.dok.Physica E: Low-Dimensional Systems and Nanostructures. - : Elsevier - ISSN 1386-9477
    Roč. 136, February (2022)
    Poč.str.5 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.NL - Nizozemsko
    Klíč. slovaSchottky barrier ; Graphene ; Nanomanipulator ; FIB ; Surface polarity ; ZnO
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Obor OECDCondensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    CEPGA20-24366S GA ČR - Grantová agentura ČR
    Způsob publikováníOmezený přístup
    Institucionální podporaURE-Y - RVO:67985882
    UT WOS000712093100004
    EID SCOPUS85116904652
    DOI10.1016/j.physe.2021.115006
    AnotaceWe demonstrate an experimental approach for prototyping heterojunctions formed between graphene and bulk semiconductor substrates. This approach employs focused ion beam milling to fabricate microscale area heterojunctions and in-situ electrical measurements in the chamber of the scanning electron microscope to measure their electrical characteristics. The aim is to limit the impact of defects in graphene on the electrical characteristics of the junctions. The approach is demonstrated on graphene/ZnO structures with different polar faces. On these structures, theoretical predictions pointing to differences in charge transport are experimentally validated
    PracovištěÚstav fotoniky a elektroniky
    KontaktPetr Vacek, vacek@ufe.cz, Tel.: 266 773 413, 266 773 438, 266 773 488
    Rok sběru2023
    Elektronická adresahttps://doi.org/10.1016/j.physe.2021.115006
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.