Počet záznamů: 1  

Effect of medium energy He.sup.+./sup., Ne.sup.+./sup. and Ar.sup.+./sup. ion irradiation on the Hf-In-C thin film composites

  1. 1.
    SYSNO ASEP0557675
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevEffect of medium energy He+, Ne+ and Ar+ ion irradiation on the Hf-In-C thin film composites
    Tvůrce(i) Cannavó, A. (CZ)
    Vacík, J. (CZ)
    Bakardjieva, S. (CZ)
    Kupčík, Jaroslav (FZU-D) ORCID
    Lavrentiev, V. (CZ)
    Ceccio, G. (CZ)
    Horák, P. (CZ)
    Němeček, J. (CZ)
    Calcagno, L. (IT)
    Celkový počet autorů9
    Číslo článku139052
    Zdroj.dok.Thin Solid Films. - : Elsevier - ISSN 0040-6090
    Roč. 743, Feb (2022)
    Poč.str.13 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.CH - Švýcarsko
    Klíč. slovahafnium ; indium ; carbon ; composite ; ion radiation ; ion tolerance ; hardness
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Obor OECDCondensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    Způsob publikováníOmezený přístup
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    UT WOS000784446700001
    EID SCOPUS85122000442
    DOI10.1016/j.tsf.2021.139052
    AnotaceThin films of Hf-In-C ternary compounds were synthesized by a 2-step method consisting of a low-energy ion beam sputtering and thermal annealing. The radiation tolerance of the composites and the effects of irradiation by medium energy light and heavy ions (100 keV He+, 100 keV Ne+, and 200 keV Ar+) with an extreme fluence (1017 ions/cm2) were analyzed. The study showed that the as-prepared Hf-In-C thin films form a mixture of different binary and ternary phases, including nanostructured Hf2InC, and oxides of metallic building elements. The irradiation with light ions (He+) had only a mild effect on the structure, composition, and mechanical properties of the composites. However, irradiation with heavy ions (Ne+, Ar+) led to a significant change in all monitored parameters and an overall collapse of the sample structure (especially for the Ar+ ions). It turned out that although thin Hf-In-C composites show to be highly tolerant to light ions, they have very limited resistivity to medium energy heavy ions.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2023
    Elektronická adresahttps://doi.org/10.1016/j.tsf.2021.139052
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.