Počet záznamů: 1
Tunable visible emission in nanostructured thin films and bulk ZnO
- 1.
SYSNO ASEP 0557095 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Tunable visible emission in nanostructured thin films and bulk ZnO Tvůrce(i) Yatskiv, Roman (URE-Y) RID, ORCID
Grym, Jan (URE-Y)
Kučerová, Šárka (URE-Y)
Tiagulskyi, Stanislav (URE-Y)
Černohorský, Ondřej (URE-Y)
Bašinová, Nikola (URE-Y)
Veselý, J. (CZ)Celkový počet autorů 7 Zdroj.dok. Journal of Sol-Gel Science and Technology. - : Springer - ISSN 0928-0707
Roč. 102, č. 2 (2022), s. 447-453Poč.str. 7 s. Forma vydání Tištěná - P Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova luminescence ; photoluminescence ; nanoparticles ; Zinc oxide ; Photoluminescence ; Electrical properties ; Annealing Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery Obor OECD Optics (including laser optics and quantum optics) CEP GA20-24366S GA ČR - Grantová agentura ČR Způsob publikování Omezený přístup Institucionální podpora URE-Y - RVO:67985882 UT WOS 000777066900001 EID SCOPUS 85127555518 DOI 10.1007/s10971-022-05779-z Anotace This paper offers new insights into the physical phenomena in light emission from ZnO. The effect of the annealing atmosphere and temperature on defect-related emission in ZnO thin films prepared by the sol-gel method and nonpolar ZnO bulk substrates is investigated by photoluminescence spectroscopy, transmission electron microscopy, and DC electrical measurements. It is demonstrated that the post-annealing treatment is a powerful tool to modify intrinsic/extrinsic defects in ZnO and that the defect-related emission can be accurately tailored in a wide range from blue to red by changing the postdeposition processing parameters. Accurate tailoring of the deep-level emission wavelength in ZnO is of great importance in optoelectronics, particularly in white-light-emitting diodes, display devices, or biological labeling. Pracoviště Ústav fotoniky a elektroniky Kontakt Petr Vacek, vacek@ufe.cz, Tel.: 266 773 413, 266 773 438, 266 773 488 Rok sběru 2023 Elektronická adresa https://doi.org/10.1007/s10971-022-05779-z
Počet záznamů: 1