Počet záznamů: 1
Držák vzorků pro FIB-SEM umožňující analýzu vzorku při nízkých teplotách
- 1.
SYSNO ASEP 0550701 Druh ASEP L - Prototyp, funkční vzorek Zařazení RIV G - Technicky realizované výsledky (prototyp, funkční vzorek) Poddruh RIV Funkční vzorek Název Držák vzorků pro FIB-SEM umožňující analýzu vzorku při nízkých teplotách Překlad názvu A sample holder for FIB-SEM at low temperature Tvůrce(i) Hrubanová, Kamila (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Láznička, Tomáš (UPT-D) ORCID, RID, SAI
Krzyžánek, Vladislav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Samek, Ota (UPT-D) RID, ORCID, SAIRok vydání 2021 Int.kód APL-2021-10 Technické parametry Kryo-držák s antikontaminátorem je navržen pro účely pozorování hluboce zamražených vzorků v rastrovacích elektronových mikroskopech (SEM) vybavených kryo-systémem typu Bal-Tec (Balzers, Lichtenštajnsko) a Leica microsystems (Vídeň, Rakousko). Držák je uzpůsoben pro uchycení kovových terčíků používaných v systémech pro vysokotlaké mražení High Pressure Freezing (HPF), výrobců Leica microsystems (Vídeň, Rakousko) a Engineering Office M. Wohlwend GmbH (Sennwald, Švýcarsko), a to tak, aby bylo možné pozorování jak pomocí detektorů sekundárních a zpětně odražených elektronů, tak pro použití v mikroskopech typu FIB-SEM. Kryo-držák je navržen takovým způsobem, aby jej bylo možné přenášet pomocí kryo-vakuového transferu VCT100 (Bal-Tec, Balzers, Lichtenštajnsko a Leica microsystems, Vídeň, Rakousko), tzn. je zachována jeho kompatibilita s přenosnou tyčí transferu. Z důvodu využití pro korelativní zobrazování s Ramanovým mikrospektrometrem (InVia, Renishaw) je horní, vyměnitelná část držáku opatřena značkami (viz. Technická dokumentace). Kryo-držák umožňuje pevné uchycení dvou HPF terčíku o průměru 3 nebo 6 mm v závislosti na jeho variantě, pevné uchycení HPF terčíku je vyřešeno pomocí svěracího mechanismu a to tak, že při zašroubování stavěcího šroubu sevře stolek terčík mezi svými čelistmi. Součástí kryo-držáku je antikontaminátor – pohyblivý štít, který se při přenosu překlopí nad uchycené vzorky pomocí otočného pohybu tyčí, která je součástí transferu VCT100 (Leica microsystems). Ekonomické parametry Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Mgr. Kamila Hrubanová, Ph.D., hrubanova@isibrno.cz. Název vlastníka Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. IČ vlastníka 68081731 Kat.výsl.dle nákl. A - Vyčerpaná část nákladů <= 5 mil. Kč Požad. na licenč. popl. N - Poskytovatel licence nepožaduje licenční poplatek Číselná identifikace APL-2021-109 Jazyk dok. cze - čeština Země vlastníka CZ - Česká republika Klíč. slova Cryo-SEM ; Raman spectroscopy ; electron microscopy ; FIB-SEM Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika Obor OECD Electrical and electronic engineering CEP TN01000008 GA TA ČR - Technologická agentura ČR Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Anotace Funkčním vzorkem je držák vzorků, který umožní uchycení hluboce zamražených preparátů a jejich následnou analýzu pro pozorování v rastrovacím elektronovém mikroskopu za kryogenních teplot (cryo-SEM). Rastrovací elektronový mikroskop musí být vybaven kryo-stolkem založeném na komerčním systému od firmy Leica microsystems nebo Bal-Tec. Držák umožní pozorovat vzorky různých velikostí, je vybaven vyměnitelným nástavcem, který je zkonstruován pro 6 mm nebo 3 mm HPF terčíky. Držák je opatřen pohyblivým antikontaminačním štítem, který zajistí bezpečný přenos vzorků a sníží vznik kontaminací. Velikost a tvar držáku je kompatibilní pro FIB-SEM systémy, držák umožní korelativní měření díky přesně definovaným identifikačním značkám na jeho horní části. Překlad anotace A functional sample is a sample holder that allows deep-frozen specimens to be mounted and then analysed in a scanning electron microscope at cryogenic temperatures (cryo-SEM). The SEM is equipped with a cryo-stage based on a commercial system from Leica microsystems or Bal-Tec. The holder allows to observe samples of different sizes, because it is equipped with a replaceable upper part extension designed for both 6 mm and 3 mm HPF carriers. The holder has a movable anti-contamination shield to ensure the safe transfer of deep-frozen samples and to reduce contamination from the air. The size and shape of the holder are compatible for FIB-SEM systems, and the holder allows correlative measurement thanks to precisely defined identification marks on its upper part extension. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2022
Počet záznamů: 1