Počet záznamů: 1  

Optical Near-Field Electron Microscopy

  1. 1.
    SYSNO ASEP0544249
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevOptical Near-Field Electron Microscopy
    Tvůrce(i) Marchand, R. (AT)
    Šachl, Radek (UFCH-W) RID, ORCID
    Kalbáč, Martin (UFCH-W) RID, ORCID
    Hof, Martin (UFCH-W) RID, ORCID
    Tromp, R. (NL)
    Amaro, Mariana (UFCH-W) RID, ORCID
    van der Molen, M. (NL)
    Juffmann, T. (AT)
    Číslo článku014008
    Zdroj.dok.Physical Review Applied. - : American Physical Society - ISSN 2331-7019
    Roč. 16, č. 1 (2021)
    Poč.str.8 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.US - Spojené státy americké
    Klíč. slovaElectron microscopy ; Image resolution ; Optical imaging technique ; Membrane
    Vědní obor RIVCF - Fyzikální chemie a teoretická chemie
    Obor OECDPhysical chemistry
    CEPGX19-26854X GA ČR - Grantová agentura ČR
    Způsob publikováníOmezený přístup
    Institucionální podporaUFCH-W - RVO:61388955
    UT WOS000677430000002
    EID SCOPUS85109284871
    DOI10.1103/PhysRevApplied.16.014008
    AnotaceThe imaging of dynamical processes at interfaces and on the nanoscale is of great importance throughout science and technology. While light-optical imaging techniques often cannot provide the necessary spatial resolution, electron-optical techniques damage the specimen and cause dose-induced artifacts. Here, optical near-field electron microscopy (ONEM) is proposed, an imaging technique that combines noninvasive probing with light, with a high-spatial-resolution readout via electron optics. Close to the specimen, the optical near fields are converted into a spatially varying electron flux using a planar photocathode. The electron flux is imaged using low-energy electron microscopy, enabling label-free nanometric resolution without the need to scan a probe across the sample. The specimen is never exposed to damaging electrons.
    PracovištěÚstav fyzikální chemie J.Heyrovského
    KontaktMichaela Knapová, michaela.knapova@jh-inst.cas.cz, Tel.: 266 053 196
    Rok sběru2022
    Elektronická adresahttp://hdl.handle.net/11104/0321279
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.