Počet záznamů: 1
Beam shaping and probe characterization in the scanning electron microscope
- 1.
SYSNO ASEP 0543063 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Beam shaping and probe characterization in the scanning electron microscope Tvůrce(i) Řiháček, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID
Horák, M. (CZ)
Schachinger, T. (AT)
Mika, Filip (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Matějka, Milan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Krátký, Stanislav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Fořt, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Radlička, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Johnson, C. W. (US)
Novák, L. (CZ)
Seďa, B. (CZ)
McMorran, B.J. (US)
Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCIDCelkový počet autorů 13 Číslo článku 113268 Zdroj.dok. Ultramicroscopy. - : Elsevier - ISSN 0304-3991
Roč. 225, June (2021)Poč.str. 9 s. Forma vydání Tištěná - P Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. NL - Nizozemsko Klíč. slova Electron diffraction ; SEM ; Electron beam structuring ; Spot shape measurement ; Electron vortex beam Vědní obor RIV BF - Elementární částice a fyzika vys. energií Obor OECD Particles and field physics CEP TN01000008 GA TA ČR - Technologická agentura ČR Způsob publikování Open access Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 UT WOS 000649633800002 EID SCOPUS 85104406836 DOI 10.1016/j.ultramic.2021.113268 Anotace Here we demonstrate the use of nanofabricated grating holograms to diffract and shape electrons in a scanning electron microscope. The diffraction grating is placed in an aperture in the column. The entire diffraction pattern can be passed through the objective lens and projected onto the specimen, or an intermediate aperture can be used to select particular diffracted beams. We discuss several techniques for characterizing the diffraction pattern. The grating designs can incorporate features that can influence the phase and intensity of the diffracted SEM probe. We demonstrate this by producing electron vortex beams. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2022 Elektronická adresa https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304399121000589
Počet záznamů: 1