Počet záznamů: 1  

Electron vortex beams in the scanning electron microscope

  1. 1.
    SYSNO ASEP0540306
    Druh ASEPA - Abstrakt
    Zařazení RIVZáznam nebyl označen do RIV
    Zařazení RIVNení vybrán druh dokumentu
    NázevElectron vortex beams in the scanning electron microscope
    Tvůrce(i) Řiháček, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID
    Horák, M. (CZ)
    Schachinger, T. (AT)
    Mika, Filip (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Matějka, Milan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Fořt, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Radlička, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Novák, L. (CZ)
    Seďa, B. (CZ)
    McMorran, B.J. (US)
    Béché, A. (BE)
    Verbeeck, J. (BE)
    Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Celkový počet autorů13
    Zdroj.dok.Microscopy 2020. - Praha : Československá mikroskopická společnost, 2020
    S. 42
    Poč.str.1 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    AkceMicroscopy 2020
    Datum konání06.10.2020 - 07.10.2020
    Místo konáníLednice
    ZeměCZ - Česká republika
    Typ akceEUR
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.CZ - Česká republika
    Klíč. slovaelectron vortex beams ; SEM
    Vědní obor RIVJA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Obor OECDElectrical and electronic engineering
    CEPTN01000008 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
    Institucionální podporaUPT-D - RVO:68081731
    AnotaceBeam shaping in the (scanning) transmission electron microscope ((S)TEM) has been developingin the past decade as a tool for extending analytical abilities of conventional microscopes. A specific application of the beam sculpturing are electron vortex beams (EVBs). They were introduced in 2007 and experimentally realized in 2010. These beams, characterized by a well-defined orbital angular momentum in a direction of propagation, have been demonstrated as a tool for chiral energy-loss spectroscopy, probing surface plasmon properties or manipulating with nanoparticles. So far, all these experiments have been performed solely in the (S)TEM, where a detection of the probe current density distribution is quite straightforward. On the other hand, such a probecharacterization is rather challenging in the scanning electron microscope (SEM).
    PracovištěÚstav přístrojové techniky
    KontaktMartina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
    Rok sběru2021
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.