Počet záznamů: 1
Vývoj a testování fázových destiček
- 1.
SYSNO ASEP 0536670 Druh ASEP O - Ostatní výsledky Zařazení RIV O - Ostatní Název Vývoj a testování fázových destiček Překlad názvu Development and testing of phase plates Tvůrce(i) Krátký, Stanislav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Materna Mikmeková, Eliška (UPT-D) ORCID, RID, SAI
Fořt, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Radlička, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Sháněl, O. (CZ)Celkový počet autorů 5 Rok vydání 2020 Jazyk dok. cze - čeština Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova transmission electron microscope ; phase plates ; silicon nitride ; charging ; EELS Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika Obor OECD Electrical and electronic engineering CEP TN01000008 GA TA ČR - Technologická agentura ČR Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Anotace Zpráva shrnuje výsledky dosažené při vývoji fázových destiček pro transmisní elektronovou mikroskopii. Velký důraz je kladený na popis přípravy fázových destiček na bázi silikon nitridu (v tloušťkách desítek nm), která je pokovená tenkou naprášenou vrstvou molybdenu pro zvýšení doby života fázové destičky a eliminaci elektrostatického náboje. Tloušťky vrstev byly optimalizované pro výsledný fázový posuv pi/2, který umožní zvýšení kontrastu zejména lehkých prvků v organických vzorcích. Překlad anotace The report summarizes results which we reached in the development of phase plates for transmission electron microscopy. We focused on describing the phase plates with silicon nitride base layer (tens nm thick) covered by sputtered mMolybdenum's thin layer for an increase of the live-time and elimination of electrostatic charging. The thickness of layers was optimized for the final phase-shift of pi/2, enabling an increase of contrast for organic based samples. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2021
Počet záznamů: 1