Počet záznamů: 1
Fázová destička pro použití v transmisní elektronové mikroskopii
- 1.
SYSNO ASEP 0536583 Druh ASEP L - Prototyp, funkční vzorek Zařazení RIV G - Technicky realizované výsledky (prototyp, funkční vzorek) Poddruh RIV Funkční vzorek Název Fázová destička pro použití v transmisní elektronové mikroskopii Překlad názvu Phase plate for transmission electron microscopy Tvůrce(i) Krátký, Stanislav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Fořt, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Matějka, Milan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Materna Mikmeková, Eliška (UPT-D) ORCID, RID, SAI
Radlička, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Řiháček, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID
Sháněl, O. (CZ)
Schneider, M. (CZ)
Mareček, D. (CZ)Celkový počet autorů 9 Rok vydání 2020 Int.kód APL-2020-07 Technické parametry Křemíkový čip (tloušťka 200 µm) nesoucí tenkou nitridovou membránu (tloušťka ⁓70 nm). Otvor membrány je čtvercového tvaru o rozměru 100×100 µm. Čip je upevněný na platinové clonce o průměru 3 mm. Celý vzorek je pokoven tenkou vrstvou molybdenu (⁓3 nm). Ekonomické parametry Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: Ing. Stanislav Krátký, kratky@isibrno.cz Název vlastníka Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i. IČ vlastníka 68081731 Kat.výsl.dle nákl. A - Vyčerpaná část nákladů <= 5 mil. Kč Požad. na licenč. popl. A - Poskytovatel licence požaduje licenční poplatek Číselná identifikace APL-2020-07 Jazyk dok. cze - čeština Země vlastníka CZ - Česká republika Klíč. slova transmission electron microscopy ; phase plate ; silicon nitride ; thin layers ; e-beam lithography Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika Obor OECD Electrical and electronic engineering CEP TN01000008 GA TA ČR - Technologická agentura ČR Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Anotace Fázová destička z nitridu křemíku slouží ke změně fáze procházejících vysokoenergetických elektronů. Nosným substrátem tenké membrány je křemíkový čip připevněný na platinovou clonku, která zároveň odstiňuje nežádoucí elektrony. Celý vzorek je pokoven tenkou vrstvou molybdenu kvůli zajištění vodivosti vzorku. Překlad anotace Silicon nitride phase plate serve as a phase shift element for high energy electrons. Silicon die is a supporting substrate for thin membrane which is glued to platinum aperture. The aperture eliminates unwanted electrons. The whole sample is coated with thin layer of molybdenum to ensure the conductivity of the sample. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2021
Počet záznamů: 1