Počet záznamů: 1  

High-Resolution Analysis Using Bent Perfect Crystal in Powder Diffraction: Part I

  1. 1.
    SYSNO ASEP0534293
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevHigh-Resolution Analysis Using Bent Perfect Crystal in Powder Diffraction: Part I
    Tvůrce(i) Mikula, Pavol (UJF-V) RID, ORCID, SAI
    Šaroun, Jan (UJF-V) RID, ORCID, SAI
    Stammers, James H. (UJF-V)
    Em, V. (RU)
    Celkový počet autorů4
    Zdroj.dok.Journal of Surface Investigation-X-Ray Synchrotron and Neutron Techniques. - : Pleiades Publishing - ISSN 1027-4510
    Roč. 14, SUPPL 1 (2020), s. 146-150
    Poč.str.5 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.US - Spojené státy americké
    Klíč. slovapowder diffraction ; focusing ; bent crystal analyzer
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Obor OECDCondensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    CEPLM2015048 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    LM2010011 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    LM2015056 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Způsob publikováníOmezený přístup
    Institucionální podporaUJF-V - RVO:61389005
    UT WOS000578828100030
    EID SCOPUS85092422901
    DOI10.1134/S1027451020070320
    AnotaceThree-axis setup using a bent perfect crystal monochromator and analyzer was tested in the diffraction study of alpha-Fe(211) polycrystalline pins with diameters of 8 and 2 mm. After the optimal conditions were realized at a neutron wavelength of 0.162 nm, a high angular resolution was achieved up to FWHM (Delta d/d) = 4.7 x 10(-3)and 3.5 x 10(-3)for 8 and 2 mm pins, respectively, within the range of curvatures of the analyzer used. However, open beams were used, i.e., without Soller collimators. Such a diffraction setting can be used in powder diffraction studies, namely, in the analysis of small changes in the lattice parameters or small changes in the diffraction profile due to the application of an external load.
    PracovištěÚstav jaderné fyziky
    KontaktMarkéta Sommerová, sommerova@ujf.cas.cz, Tel.: 266 173 228
    Rok sběru2021
    Elektronická adresahttps://doi.org/10.1134/S1027451020070320
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.