Počet záznamů: 1
Ion, electron and laser beams for Cultural Heritage investigations by Czech-Italian collaboration
- 1.
SYSNO ASEP 0525007 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Ion, electron and laser beams for Cultural Heritage investigations by Czech-Italian collaboration Tvůrce(i) Torrisi, L. (IT)
Torrisi, Alfio (UJF-V) RID, ORCID
Havránek, Vladimír (UJF-V) RID, SAI, ORCID
Tomandl, Ivo (UJF-V) RID, ORCID, SAI
Silipigni, L. (IT)Celkový počet autorů 5 Číslo článku C04050 Zdroj.dok. Journal of Instrumentation. - : Institute of Physics Publishing - ISSN 1748-0221
Roč. 15, č. 4 (2020)Poč.str. 20 s. Forma vydání Tištěná - P Akce Conference on Plasma Physics by Laser and Applications (PPLA) Datum konání 29.10.2019 - 31.10.2019 Místo konání Pisa Země IT - Itálie Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova mass spectrometers ; X-ray detectors ; X-ray fluorescence (XRF) systems Vědní obor RIV BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače Obor OECD Nuclear physics CEP LM2015056 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy GA19-02482S GA ČR - Grantová agentura ČR EF16_013/0001812 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Způsob publikování Omezený přístup Institucionální podpora UJF-V - RVO:61389005 UT WOS 000534739900050 EID SCOPUS 85085258018 DOI 10.1088/1748-0221/15/04/C04050 Anotace An overview of physical investigations of cultural heritage samples using ion and laser beams performed in the frame of the international collaboration between the University of Messina (Italy) and the Nuclear Physics Institute-ASCR (Czech Republic) is presented. Solid samples are analysed in high vacuum using particle induced X-ray emission, Rutherford backscattering spectrometry, elastic recoil detection analysis, prompt gamma activation analysis, nuclear reaction analysis, laser ablation, mass spectrometry, scanning electron microscopy, and many more. The elemental composition of the sample, the trace elements, the depth profiles, the morphology and the comparison between samples and references are reported. Both electron and ion microbeams are employed to have details of the spatial distribution maps of elements of interest. Pracoviště Ústav jaderné fyziky Kontakt Markéta Sommerová, sommerova@ujf.cas.cz, Tel.: 266 173 228 Rok sběru 2021 Elektronická adresa https://doi.org/10.1088/1748-0221/15/04/C04050
Počet záznamů: 1