Počet záznamů: 1
Selective modification of electrical insulator material by ion micro beam for the fabrication of circuit elements
- 1.
SYSNO ASEP 0523923 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Selective modification of electrical insulator material by ion micro beam for the fabrication of circuit elements Tvůrce(i) Cutroneo, Mariapompea (UJF-V) ORCID, RID, SAI
Havránek, Vladimír (UJF-V) RID, SAI, ORCID
Macková, Anna (UJF-V) RID, ORCID, SAI
Malinský, Petr (UJF-V) RID, ORCID, SAI
Torrisi, Alfio (UJF-V) RID, ORCID
Silipigni, L. (IT)
Sofer, Z. (CZ)
Torrisi, L. (IT)Celkový počet autorů 8 Zdroj.dok. Radiation Effects and Defects in Solids. - : Taylor & Francis - ISSN 1042-0150
Roč. 175, 3-4 (2020), s. 307-317Poč.str. 11 s. Forma vydání Tištěná - P Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova electrical insulator ; ion micro beam writing ; electrical conductivity ; Raman spectroscopy Vědní obor RIV BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače Obor OECD Nuclear physics CEP LM2015056 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy EF16_013/0001812 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy GA19-02482S GA ČR - Grantová agentura ČR Způsob publikování Omezený přístup Institucionální podpora UJF-V - RVO:61389005 UT WOS 000522130000008 EID SCOPUS 85082590761 DOI 10.1080/10420150.2019.1701462 Anotace Two well-established electrical insulators, graphene oxide and poly(methylmethacrylate) (PMMA) have been selectively exposed to controlled energy and fluence of ions. Ion micro beam has been proposed for processing of both graphene-based material and polymeric foils for tailoring of their properties. In a single step, the mask-less production of pattern on graphene-oxide and poly(methylmethacrylate) was realized at the Tandetron Laboratory of the Nuclear Physics Institute (Czech Republic) using a stream of 2.2 MeV alpha particles. Elements of a circuit were written on GO and poly(methylmethacrylate) in a controlled way using a software written in LabVIEW code. The induced deoxygenation, and dehydrogenation change the compositional, structural and electrical properties in the exposed samples. The accuracy of the method has been investigated by Rutherford backscattering spectrometry, elastic recoil detection analysis, Raman microscopy and the electrical standard two points method. Pracoviště Ústav jaderné fyziky Kontakt Markéta Sommerová, sommerova@ujf.cas.cz, Tel.: 266 173 228 Rok sběru 2021 Elektronická adresa https://doi.org/10.1080/10420150.2019.1701462
Počet záznamů: 1