Počet záznamů: 1
Assessing the thickness error rate of quantitative STEM measurements
- 1.
SYSNO ASEP 0521571 Druh ASEP A - Abstrakt Zařazení RIV Záznam nebyl označen do RIV Zařazení RIV Není vybrán druh dokumentu Název Assessing the thickness error rate of quantitative STEM measurements Tvůrce(i) Skoupý, Radim (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Krzyžánek, Vladislav (UPT-D) RID, ORCID, SAICelkový počet autorů 2 Zdroj.dok. MCM 2019. 14th Multinational Congress on Microscopy. Proceedings. - Belgrade : University of Belgrade, 2019 - ISBN 978-86-80335-11-7
S. 107-109Poč.str. 2 s. Forma vydání Tištěná - P Akce Multinational Congress on Microscopy /14./ Datum konání 15.09.2019 - 20.09.2019 Místo konání Belgrade Země RS - Srbsko Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. RS - Srbsko Klíč. slova qSTEM ; BSE signal Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika Obor OECD Nano-materials (production and properties) CEP GA17-15451S GA ČR - Grantová agentura ČR FV30271 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu TN01000008 GA TA ČR - Technologická agentura ČR Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Anotace Quantitative scanning transmission electron microscopy (qSTEM) analysis is one of the few methods which provide determination of sample thickness in an electron microscope. We focus in more detail on the accuracy of such type of thickness determination. To compare individual detector segments and their accuracy we used – analogically to our previous work with a BSE signal – a sample with a thickness known in each point – a latex nanosphere with a nominal diameter of 616 nm (S130-6, Agar Scientific, United Kingdom). We measured the diameter of 575 nm in the case of the shown particle. The accurate diameter was assessed for each particle during the image processing. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2020
Počet záznamů: 1