Počet záznamů: 1
Characterization of graphene oxide film by implantation of low energy copper ions
- 1.
SYSNO ASEP 0520862 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Characterization of graphene oxide film by implantation of low energy copper ions Tvůrce(i) Cutroneo, Mariapompea (UJF-V) ORCID, RID, SAI
Torrisi, L. (IT)
Havránek, Vladimír (UJF-V) RID, SAI, ORCID
Macková, Anna (UJF-V) RID, ORCID, SAI
Malinský, Petr (UJF-V) RID, ORCID, SAI
Torrisi, Alfio (UJF-V) RID, ORCID
Stammers, James H. (UJF-V)
Sofer, Z. (CZ)
Silipigni, L. (IT)
Fazio, B. (IT)
Fazio, M. (IT)
Bottger, R. (DE)Celkový počet autorů 12 Zdroj.dok. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B. - : Elsevier - ISSN 0168-583X
Roč. 460, č. 12 (2019), s. 169-174Poč.str. 6 s. Forma vydání Tištěná - P Akce 28th International Conference on Atomic Collisions in Solids (ICACS) / 10th International Symposium on Swift Heavy Ions in Matter (SHIM) Datum konání 01.07.2018 - 07.07.2018 Místo konání Caen Země FR - Francie Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. NL - Nizozemsko Klíč. slova low energy copper ions ; ion implantation ; composition graphene oxide Vědní obor RIV BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače Obor OECD Atomic, molecular and chemical physics (physics of atoms and molecules including collision, interaction with radiation, magnetic resonances, Mössbauer effect) CEP LM2015056 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy GA16-05167S GA ČR - Grantová agentura ČR EF16_013/0001812 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Způsob publikování Omezený přístup Institucionální podpora UJF-V - RVO:61389005 UT WOS 000504510900032 EID SCOPUS 85063340901 DOI 10.1016/j.nimb.2019.03.021 Anotace Graphene oxide (GO) is an electrical insulator as most of the carbon atoms in this material are spa-hybridized. Its physical, optical and chemical properties depend on the type and degree of reduction process. Presently, copper ion irradiation of GO foil has been performed at Ion Beam Center of the Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf to investigate the behavior of a set of GO foils under this irradiation at low energy and different fluences up to 5 x 10(16) ions/cm(2). The compositional and optical properties of graphene oxide have been studied as a function of the fluences of implanted copper ions in the wavelength range 400-1000 nm. The results of ellipsometry microscopy, helium Rutherford backscattering spectroscopy, elastic recoil detection analysis, Raman spectroscopy and SEM-EDX measurements will be presented and discussed. Pracoviště Ústav jaderné fyziky Kontakt Markéta Sommerová, sommerova@ujf.cas.cz, Tel.: 266 173 228 Rok sběru 2020 Elektronická adresa https://doi.org/10.1016/j.nimb.2019.03.021
Počet záznamů: 1