Počet záznamů: 1

Držák vzorku elektronového mikroskopu

SYSNO ASEP	0518941
Druh ASEP	P1 - Užitný vzor, průmyslový vzor
Zařazení RIV	F - Výsledky s právní ochranou (užitný vzor, průmyslový vzor)
Poddruh RIV	Užitný vzor
Název	Držák vzorku elektronového mikroskopu
Překlad názvu	Electron microscope sample holder
Tvůrce(i)	Mikmeková, Eliška (UPT-D)_RID Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Sýkora, Jiří (UPT-D) Klein, Pavel (UPT-D) Konvalina, Ivo (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Piňos, Jakub (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Průcha, Lukáš (UPT-D)_ORCID
Celkový počet autorů	8
Rok vydání	2019
Forma vydání	Online - E
Vlastník vzoru	Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Sídlo	Brno
Datum udělení vzoru	04.12.2019
Číslo vzoru	33509
Lic. popl.	Z - Poskytovatel licence nepožaduje v některých případech licenční poplatek
Využití	A - Pouze udělený (dosud nevyužívaný) patent nebo patent využívaný jeho vlastníkem
Využití jiným subjektem	P - Využití výsledku jiným subjektem je v některých případech možné bez nabytí licence
Kód vydavatele patentu	CZ001 - Úřad průmyslového vlastnictví Prague
Jazyk dok.	cze - čeština
Klíč. slova	electron microscopy, samples holder, UHV, bias, TEM grids Anotace v ČJ a AJ ; samples holder ; UHV ; bias ; TEM grids
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Obor OECD	Electrical and electronic engineering
CEP	TG03010046 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Anotace	Držák vzorku (TEM mřížky s grafénem) pro UHV elektronový mikroskop, na který je možno přivést předpětí.
Překlad anotace	Samples holder (TEM grids covered by graphene) prepared for UHV electron microscope equipped with negative biasing system.
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2020
Elektronická adresa	https://isdv.upv.cz/webapp/!resdb.pta.frm

Počet záznamů: 1