Počet záznamů: 1
Contamination Mitigation Strategy for Ultra-Low Energy Electron Microscopy and Spectroscopy
- 1.
SYSNO ASEP 0510308 Druh ASEP A - Abstrakt Zařazení RIV Záznam nebyl označen do RIV Zařazení RIV Není vybrán druh dokumentu Název Contamination Mitigation Strategy for Ultra-Low Energy Electron Microscopy and Spectroscopy Tvůrce(i) Materna Mikmeková, Eliška (UPT-D) ORCID, RID, SAI
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Konvalina, Ivo (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Zhang, T. (US)
Asefa, T. (US)Celkový počet autorů 6 Zdroj.dok. Microscopy and Microanalysis. - : Cambridge University Press - ISSN 1431-9276
Roč. 25, S2 (2019), s. 500-501Poč.str. 2 s. Forma vydání Tištěná - P Akce Microscopy & Microanalysis 2019 Meeting Datum konání 04.08.2019 - 08.08.2019 Místo konání Portland Země US - Spojené státy americké Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova ultra-low energy ; spectroscopy ; contamination mitigation strategy Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika Obor OECD Nano-materials (production and properties) CEP TN01000008 GA TA ČR - Technologická agentura ČR TG03010046 GA TA ČR - Technologická agentura ČR Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 DOI 10.1017/S1431927619003234 Anotace Perhaps the most straightforward expectation related with ultra-low energy microscopy/spectroscopy is
the low penetration of electrons into the samples. In general, low energy electrons cause more intense
contamination than high energy electrons, which can be explained by diminution of the interaction
volume of electrons inside the samples and increased yield of secondary electrons. Naturally, for a true
“surface” study, the sample has to be perfectly clean and an in-situ cleaning method should be applied
on the sample.Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2020
Počet záznamů: 1