Počet záznamů: 1
Experimental Measurement of Nanolayers via Electromagnetic, Near Infrared, and Gamma Radiation
- 1.
SYSNO ASEP 0508216 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Experimental Measurement of Nanolayers via Electromagnetic, Near Infrared, and Gamma Radiation Tvůrce(i) Fiala, P. (CZ)
Bartušek, Karel (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Dědková, J. (CZ)
Kadlec, R. (CZ)
Dohnal, P. (CZ)Celkový počet autorů 5 Zdroj.dok. Measurement Science Review. - : Sciendo - ISSN 1335-8871
Roč. 19, č. 4 (2019), s. 144-152Poč.str. 9 s. Forma vydání Tištěná - P Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. SK - Slovensko Klíč. slova nanomaterials ; multilayered material ; resonance ; periodic system ; electromagnetic wave ; X-ray ; gamma-ray ; antireflection ; shielding Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery Obor OECD Nuclear physics Způsob publikování Open access Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 UT WOS 000482557900002 DOI 10.2478/msr-2019-0020 Anotace We discuss and compare the results obtained from experimental measurements of a two-layer, Ni and TiO2 nanometric structure deposited on siliceous glass. Utilizing previous theoretical models of multilayers or periodic systems and their verifications, the paper focuses on measurement in the NIR, visible, UV, X-ray, and gamma bands of the electromagnetic spectrum, the wavelength of the incident electromagnetic wave is respected. The proposed evaluation comprises a brief description of a Snell's law-based semi-analytic model of electromagnetic wave propagation through a layered material. We also demonstrate the expected anti-reflective and shielding effects in the X-ray and gamma-ray bands, respectively. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2020 Elektronická adresa https://content.sciendo.com/view/journals/msr/19/4/article-p144.xml
Počet záznamů: 1