Počet záznamů: 1

STEM detector in SEM

SYSNO ASEP	0502126
Druh ASEP	A - Abstrakt
Zařazení RIV	Záznam nebyl označen do RIV
Zařazení RIV	Není vybrán druh dokumentu
Název	STEM detector in SEM
Tvůrce(i)	Konvalina, Ivo (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Paták, Aleš (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Materna Mikmeková, Eliška (UPT-D)_{ORCID, RID, SAI} Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Celkový počet autorů	4
Zdroj.dok.	FEELIS-III. - Amsterdam : ARCNL, 2018 S. 55-56
Poč.str.	2 s.
Forma vydání	Tištěná - P
Akce	LEELIS-III. Low Energy Elwctrons: Lithography, Imaging and Soft Matter
Datum konání	12.11.2018 - 13.11.2018
Místo konání	Amsterdam
Země	NL - Nizozemsko
Typ akce	WRD
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	NL - Nizozemsko
Klíč. slova	STEM ; SEM
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Obor OECD	Electrical and electronic engineering
CEP	TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
	LO1212 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Anotace	Nowadays, scanning electron microscopes (SEM) are commonly equipped with technique for svanning transmission electron microscopy (STEM). The segmented semiconductor STEM detector in the Magellan 400 FEG SEM microscope is used to detect transmitted electrons (TEs).
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2019

Počet záznamů: 1