Počet záznamů: 1
Kelvin probe force microscopy
- 1.
SYSNO ASEP 0501462 Druh ASEP M - Kapitola v monografii Zařazení RIV C - Kapitola v knize Název Imaging charge distribution within molecules by scanning probe microscopy Tvůrce(i) Ondráček, Martin (FZU-D) RID, ORCID
Hapala, Prokop (FZU-D) RID, ORCID
Švec, Martin (FZU-D) RID, ORCID
Jelínek, Pavel (FZU-D) RID, ORCIDCelkový počet autorů 4 Zdroj.dok. Kelvin probe force microscopy. - Cham : Springer International Publishing, 2018 / Sadewasser S. ; Glatzel T. - ISSN 0931-5195 - ISBN 978-3-319-75686-8 Rozsah stran s. 499-518 Poč.str. 20 s. Poč.str.knihy 521 Forma vydání Tištěná - P Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CH - Švýcarsko Klíč. slova charge distribution ; surfaces ; molecules ; Kelvin probe force microscopy ; scanning quantum dot microscopy ; high resolution atomic force microscopy Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus Obor OECD Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.) CEP GJ17-24210Y GA ČR - Grantová agentura ČR Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 EID SCOPUS 85043786762 DOI 10.1007/978-3-319-75687-5_16 Anotace Different methods which provide information about charge distribution at atomic or submolecular scale are discussed, including Kelvin probe force microscopy, scanning quantum dot microscopy or high-resolution imaging with functionalized tips. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2019
Počet záznamů: 1