Počet záznamů: 1

Correlative cryo-qSTEM-CL imaging in a SEM

SYSNO ASEP	0495552
Druh ASEP	A - Abstrakt
Zařazení RIV	Záznam nebyl označen do RIV
Zařazení RIV	Není vybrán druh dokumentu
Název	Correlative cryo-qSTEM-CL imaging in a SEM
Tvůrce(i)	Skoupý, Radim (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Krzyžánek, Vladislav (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI}
Celkový počet autorů	2
Zdroj.dok.	19th International Microscopy Congress (IMC19). Book of Abstracts.. - Sydney : LMA, 2018
Poč.str.	1 s.
Forma vydání	Tištěná - P
Akce	International Microscopy Congress (IMC19) /19./
Datum konání	09.09.2018 - 14.09.2018
Místo konání	Sydney
Země	AU - Austrálie
Typ akce	WRD
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	AU - Austrálie
Klíč. slova	correlative imaging ; quantitative imaging ; Monte Carlo
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Obor OECD	Nano-materials (production and properties)
CEP	GA17-15451S GA ČR - Grantová agentura ČR
	LO1212 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Anotace	Nowadays, a correlative microscopy of several signals is one of the main topics in the electron microscopy field. In some studies, a localization, distribution and density of light emitting labels or particles in a sample is important. Unfortunately, not all light emitting structures are possible to be imaged at room temperature. Very fine particles like quantum dots with diameter in terms of nm are recognizable only at very low temperatures and with appropriate anticontamination shielding, because a contamination layer of hydrocarbon deposits can disturb whole measuring at the first electron beam scan. Qualitative imaging can be changed to quantitative by using Monte Carlo (MC) simulations of samples, with known composition and density, which can bring a new dimension to thin samples imaging by STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy). Recalculation of calibrated images via MC gives the information about the local thickness of the sample and total mass of the imaged particle with high precision (approach published in was used). This information can be compared with local cathodoluminescence (CL) activity or quantitative imaging in backscattered electrons.
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2019

Počet záznamů: 1