Počet záznamů: 1

Giant magnetic-field-induced strain in Ni-Mn-Ga micropillars

SYSNO ASEP	0494806
Druh ASEP	J - Článek v odborném periodiku
Zařazení RIV	J - Článek v odborném periodiku
Poddruh J	Článek ve WOS
Název	Giant magnetic-field-induced strain in Ni-Mn-Ga micropillars
Tvůrce(i)	Musiienko, D. (FI) Straka, Ladislav (FZU-D)_ORCID Klimša, Ladislav (FZU-D)_ORCID Saren, A. (FI) Sozinov, A. (FI) Heczko, Oleg (FZU-D)_{RID, ORCID} Ullakko, K. (FI)
Celkový počet autorů	7
Zdroj.dok.	Scripta Materialia. - : Elsevier - ISSN 1359-6462 Roč. 150, Jun (2018), s. 173-176
Poč.str.	4 s.
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	US - Spojené státy americké
Klíč. slova	ferromagnetic shape memory ; twinning ; MEMS ; focused ion beam ; micro-magneto-mechanical systems
Vědní obor RIV	BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Obor OECD	Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
CEP	GA16-00043S GA ČR - Grantová agentura ČR
	LO1409 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	LM2015088 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Institucionální podpora	FZU-D - RVO:68378271
UT WOS	000432612500039
EID SCOPUS	85044758115
DOI	10.1016/j.scriptamat.2018.03.020
Anotace	We report on the observation of fully reversible magnetic-field-induced strain of 6% in a single-crystalline micropillar fabricated from a bulk Ni50Mn28.5Ga21.5 single crystal. Xe plasma source focused ion beam column milling technology was used to machine 50 × 50 × 100 μm3 cuboid pillars. The removal of about 2 μm of ion-beam-damaged surface layer enabled magnetic field actuation in pillars. Our results demonstrate the feasibility of manufacturing of micrometre-sized magnetic shape memory actuators by focused ion beam technique.
Pracoviště	Fyzikální ústav
Kontakt	Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
Rok sběru	2019

Počet záznamů: 1