Počet záznamů: 1  

Secondary electron hyper spectral imaging in helios nanolab - mapping materials properties or artefacts?

  1. 1.
    SYSNO ASEP0494374
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevSecondary electron hyper spectral imaging in helios nanolab - mapping materials properties or artefacts?
    Tvůrce(i) Rodenburg, C. (GB)
    Masters, R. (GB)
    Abrams, K. (GB)
    Dapor, M. (IT)
    Krátký, Stanislav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Mika, Filip (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Celkový počet autorů6
    Zdroj.dok.Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar. - Brno : Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences, 2018 - ISBN 978-80-87441-23-7
    Rozsah strans. 68-69
    Poč.str.2 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    AkceRecent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation
    Datum konání04.06.2018 - 08.06.2018
    Místo konáníSkalský dvůr
    ZeměCZ - Česká republika
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.CZ - Česká republika
    Klíč. slovasecondary electrons ; polymers ; hyperspectral imaging
    Vědní obor RIVJA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Obor OECDCoating and films
    Institucionální podporaUPT-D - RVO:68081731
    UT WOS000450591400026
    AnotaceA link between peaks in secondary electron (SE) spectra and Electron Energy Loss Spectra
    (EELS) was shown decades ago. Also, materials properties (bulk modulus, band gap)
    correlate with the bulk plasmon position in EELS, and local modulus maps in carbon fibres
    have been presented. If any features as result of plasmon decay into SE can be identified,
    SE spectroscopy combined with hyperspectral imaging could transform the SEM into a tool
    for mapping materials properties with ground-breaking potential for nanotechnology. To
    become a reality, we first need to establish SE collection conditions spectra that represent a
    material reliably. Second, we need to gain a better understanding of the processes involved in the SE emission processes.
    PracovištěÚstav přístrojové techniky
    KontaktMartina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
    Rok sběru2019
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.