Počet záznamů: 1  

Synthesis and dielectric properties of BaTi.sub.1-x./sub.Zr.sub.x./sub.O.sub.3./sub.-based ceramic and film materials

  1. 1.
    SYSNO ASEP0486509
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevSynthesis and dielectric properties of BaTi1-xZrxO3-based ceramic and film materials
    Tvůrce(i) Suslov, A. (UA)
    Durilin, D. (UA)
    Ovchar, O. (UA)
    Belous, A. (UA)
    Bovtun, Viktor (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Kempa, Martin (FZU-D) RID, ORCID
    Jancar, J. (SI)
    Spreitzer, M. (SI)
    Celkový počet autorů8
    Číslo článku6873964
    Zdroj.dok.Conference Proceedings of the IEEE 34th International Scientific Conference Electronics and Nanotechnology (ELNANO). - Washington D.C. : IEEE, 2014 - ISBN 978-1-4799-4580-1
    Rozsah strans. 66-69
    Poč.str.4 s.
    Forma vydáníOnline - E
    Akce34th International Scientific Conference Electronics and Nanotechnology (ELNANO)
    Datum konání15.04.2014 - 18.04.2014
    Místo konáníKyiv
    ZeměUA - Ukrajina
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.US - Spojené státy americké
    Klíč. slovaceramics ; films ; sol-gel ; dielectric ; microwave
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Obor OECDCondensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
    CEPGAP204/12/1163 GA ČR - Grantová agentura ČR
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    EID SCOPUS84906535714
    DOI10.1109/ELNANO.2014.6873964
    AnotaceThe process of formation of BZT solid solutions (0.2 ≤ x ≤ 0.5) with perovskite structure has been studied. The phase composition, microstructure and electrophysical properties of BZT ceramic and film materials have been investigated. It has been shown that when zirconium content of ceramic materials is increased, a decrease in permittivity and loss is observed. In this case, the nonlinearity factor retains high values (30-50%) in relatively weak electric fields (30-60 kV/cm). BaTi0.6Zr0.4O3 films have been obtained by solgel method. The dielectric properties of films in the microwave
    range have been investigated.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2018
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.