Počet záznamů: 1
Holografické měřidlo pro free form povrchy
- 1.
SYSNO ASEP 0486011 Druh ASEP L - Prototyp, funkční vzorek Zařazení RIV G - Technicky realizované výsledky (prototyp, funkční vzorek) Poddruh RIV Funkční vzorek Název Holografické měřidlo pro free form povrchy Překlad názvu Hologaphical device for measurement of freeform surfaces Tvůrce(i) Kredba, Jan (UFP-V) ORCID
Lédl, Vít (UFP-V) RID
Psota, Pavel (UFP-V) RID, ORCID
Vojtíšek, Petr (UFP-V) RIDRok vydání 2016 Int.kód DP0006-2016-FV2 Technické parametry Holografické měřidlo osvětluje povrch z 16-ti směrů různými vlnovými délkami (v rozmezí 770nm - 850nm) a pomocí CMOS senzoru s velikostí 2016x2016 pixelů (velikost pixelu 3.1um x 3.1um) sbírá odražené a rozptýlené světlo od objektu. Na čipu se interferencí s referenční rovinnou vlnou vytváří digitální hologramy, které jsou pomocí algoritmů vyhodnoceny do podoby odchylky tvaru plochy od jejího nominálního předpisu. Ekonomické parametry Měření freeform povrchů bez nutnosti skenování povrchu. Vhodné pro broušené povrchy. Urychlení samotného měření i úkony s měřením spojené. Dosáhnutí větší efektivity výrobního řetězce. Název vlastníka Ústav fyziky plazmatu AV ČR, v. v. i. IČ vlastníka 61389021 Kat.výsl.dle nákl. C - Vyčerpaná část nákladů > 10 mil. Kč a <= 50 mil. Kč Využ. jiným subjektem P - Využití výsledku jiným subjektem je v některých případech možné bez nabytí licence Požad. na licenč. popl. Z - Poskytovatel licence nepožaduje v některých případech licenční poplatek Číselná identifikace DP0006-2016-FV2 Jazyk dok. cze - čeština Země vlastníka CZ - Česká republika Klíč. slova Form measurement ; digital holography ; freeform surfaces ; multiwavelength Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika Obor OECD Electrical and electronic engineering CEP TA03010893 GA TA ČR - Technologická agentura ČR Institucionální podpora UFP-V - RVO:61389021 Anotace Funkční vzorek je měřidlo založené na principu více-vlnné digitální holografie. Metoda využívá měření daného povrchu při osvětlení z několika různých směrů a následného složení dílčích měření pomocí metody nejmenších čtverců. Tato metoda umožňuje měřit rovinné, sférické, asférické i tzv. free-form tvary broušených povrchů. Překlad anotace A functional sample is a measurement device based on the principle of multi-wavelength digital holography. The method enables to measure the surface shape from different illumination directions and subsequently the measurements are composed using the least square method. This method makes it possible to measure planar, spherical, aspherical and so-called free-form shapes of ground surfaces. Pracoviště Ústav fyziky plazmatu Kontakt Vladimíra Kebza, kebza@ipp.cas.cz, Tel.: 266 052 975 Rok sběru 2018
Počet záznamů: 1