Počet záznamů: 1  

Multimodal analysis of diamond crystals and layers using RISE microscopy

  1. 1.
    SYSNO ASEP0483469
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JOstatní články
    NázevMultimodal analysis of diamond crystals and layers using RISE microscopy
    Tvůrce(i) Váňa, R. (CZ)
    Dluhoš, J. (CZ)
    Varga, Marián (FZU-D) RID, ORCID
    Schmid, Ch. (DE)
    Kromka, Alexander (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Celkový počet autorů5
    Zdroj.dok.Microscopy and Microanalysis. - : Cambridge University Press - ISSN 1431-9276
    Roč. 23, Aug (2017), s. 2280-2281
    Poč.str.2 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.US - Spojené státy americké
    Klíč. slovadiamond ; RISE microscopy
    Vědní obor RIVBH - Optika, masery a lasery
    Obor OECDOptics (including laser optics and quantum optics)
    CEPLD15003 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    DOI10.1017/S1431927617012065
    AnotaceDiamond is a material that combines several useful intrinsic properties such as a wide bandgap, the highest mechanical hardness, broad optical transparency and controllable surface termination at the molecular level. Moreover, diamond is also a biocompatible material because it is carbonaceous. Thanks to these properties, mono- and poly-crystalline diamonds are being intensively studied for uses in micro- or bio-electronics, sensing and drug delivery. Furthermore, optically tailored diamond films and nanostructures have attracted great attention due to their remarkable properties suitable for emerging technologies such as photonics, integrated quantum photonics and quantum computing. However, the properties of diamond have to be controlled at the nano- and micro-scopic scales, and this is not possible without advanced analytical techniques. Here we present the applicability of Raman Integrated Scanning Electron (RISE) microscopy for diamond characterization.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2018
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.