Počet záznamů: 1  

Supersensitive surface imaging with very slow secondary electrons

  1. 1.
    SYSNO ASEP0482727
    Druh ASEPA - Abstrakt
    Zařazení RIVZáznam nebyl označen do RIV
    Zařazení RIVNení vybrán druh dokumentu
    NázevSupersensitive surface imaging with very slow secondary electrons
    Tvůrce(i) Mikmeková, Šárka (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Konvalina, Ivo (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Tsukiori, D. (JP)
    Arai, R. (JP)
    Takano, M. (JP)
    Okuda, K. (JP)
    Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Celkový počet autorů8
    Zdroj.dok.The 3rd East-Asia Microscopy Conference. Abstract Proceeding. - Seoul : Korean Society of Microscopy, 2017
    Poč.str.1 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    AkceEast-Asia Microscopy Conference /3./
    Datum konání07.11.2017 - 10.11.2017
    Místo konáníBusan
    ZeměKR - Korejská republika
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.KR - Korejská republika
    Klíč. slovasupersensitive surface ; very slow secondary electrons
    Vědní obor RIVJA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Obor OECDMaterials engineering
    Institucionální podporaUPT-D - RVO:68081731
    AnotaceSecondary electron (SE) imaging is one of the most commonly used mode in a scanning electron microscope (SEM). Recently, the modern SEMs are equipped with highly sophisticated multiple detection systems, which enable sharing of the SEs by two or even three detectors. The SEs become effectively separated based on their initial kinetic energy and emission angle. The filtered SE images give additional information of the specimen and its surface. Figure 1 shows the SE micrographs simultaneously collected by two in-column detectors and a conventional out-lens detector. Obviously, the images collected by the in-column detectors exhibit sensitivity on surface potential as a consequence of the low kinetic energy SEs detection. The out-lens image (SE2) shows the topographic contrast, which is carried by the high energy SEs.
    PracovištěÚstav přístrojové techniky
    KontaktMartina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
    Rok sběru2018
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.