Počet záznamů: 1
More features, more tools, more CrysTBox
- 1.
SYSNO ASEP 0479945 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název More features, more tools, more CrysTBox Tvůrce(i) Klinger, Miloslav (FZU-D) ORCID Celkový počet autorů 1 Zdroj.dok. Journal of Applied Crystallography. - : Wiley - ISSN 0021-8898
Roč. 50, Part 4 (2017), s. 1226-1234Poč.str. 9 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova electron diffraction ; automated analysis ; transmission electron-microscopy ; high-resolution transmission electron microscopy ; visualization Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus Obor OECD Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.) CEP GBP108/12/G043 GA ČR - Grantová agentura ČR Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 UT WOS 000407040700027 EID SCOPUS 85026898297 DOI 10.1107/S1600576717006793 Anotace A new release of the CrysTBox software is introduced. The original toolbox allows for an automated analysis of transmission electron microscope (TEM)images and for crystallographic visualization. The existing tools, which are capable of highly precise analyses of high-resolution TEM images, as well as spot, disc and ring diffractio patterns, are extended to include a tool for automatically measuring TEM sample thickness using convergent beam electron diffraction in a two-beam approximation. An implementation of geometric phase analysis is newly available, employing one of the existing tools to identify parameters and indices of crystallographic planes depicted in the input image and allowing easier and more accurate analysis.
Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2018
Počet záznamů: 1