Počet záznamů: 1

Electron band bending and surface sensitivity: X-ray photoelectron spectroscopy of polar GaN surfaces

SYSNO ASEP	0479214
Druh ASEP	J - Článek v odborném periodiku
Zařazení RIV	J - Článek v odborném periodiku
Poddruh J	Článek ve WOS
Název	Electron band bending and surface sensitivity: X-ray photoelectron spectroscopy of polar GaN surfaces
Tvůrce(i)	Bartoš, Igor (FZU-D)_{RID, ORCID} Romanyuk, Olexandr (FZU-D)_{RID, ORCID} Paskova, T. (US) Jiříček, Petr (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Celkový počet autorů	4
Zdroj.dok.	Surface Science. - : Elsevier - ISSN 0039-6028 Roč. 664, Oct (2017), s. 241-245
Poč.str.	5 s.
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	NL - Nizozemsko
Klíč. slova	GaN ; XPS ; band banding
Vědní obor RIV	BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
Obor OECD	Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
CEP	GBP108/12/G108 GA ČR - Grantová agentura ČR
	LM2015088 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Institucionální podpora	FZU-D - RVO:68378271
UT WOS	000411304800035
EID SCOPUS	85026218589
DOI	10.1016/j.susc.2017.07.003
Anotace	GaN polar surfaces were investigated by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). Variation of Ga 3d core level peak maxima with photoelectron emission angle was revealed and was assigned to the electron attenuation anisotropy in crystals. The effect is more pronounced on surfaces with large band bending. It is suggested, that the angle-resolved XPS investigations of crystalline surfaces should rather be performed along the low-symmetry azimuthal directions of crystals.
Pracoviště	Fyzikální ústav
Kontakt	Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
Rok sběru	2018

Počet záznamů: 1