Počet záznamů: 1  

About the information depth of backscattered electron imaging

  1. 1.
    SYSNO ASEP0477097
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevAbout the information depth of backscattered electron imaging
    Tvůrce(i) Piňos, Jakub (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Mikmeková, Šárka (UPT-D) RID, SAI
    Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI
    Celkový počet autorů3
    Zdroj.dok.Journal of Microscopy - ISSN 0022-2720
    Roč. 266, č. 3 (2017), s. 335-342
    Poč.str.8 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.GB - Velká Británie
    Klíč. slovabackscattered electrons ; information depth ; penetration of electrons
    Vědní obor RIVJA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Obor OECDMaterials engineering
    Institucionální podporaUPT-D - RVO:68081731
    UT WOS000401526500011
    EID SCOPUS85014109419
    DOI10.1111/jmi.12542
    AnotaceThe information depth of imaging with backscattered electrons in the scanning electron microscope was measured directly by comparison of a planar view of a steel sample with buried precipitates with an image of a section cut through precipitates by means of a Focused Ion Beam attachment. The information depth was determined across the electron energy range of units of keV and the results were compared with information depths calculated from two published equations and simulated using widely available Monte Carlo-based software. Recommendations are given for routine estimations of BSE information depths.
    PracovištěÚstav přístrojové techniky
    KontaktJan Slaměník, jan@isibrno.cz, Tel.: 541 514 205 ; Miluše Langová, langova@isibrno.cz
    Rok sběru2018