Počet záznamů: 1
About the information depth of backscattered electron imaging
- 1.
SYSNO ASEP 0477097 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název About the information depth of backscattered electron imaging Tvůrce(i) Piňos, Jakub (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Mikmeková, Šárka (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDCelkový počet autorů 3 Zdroj.dok. Journal of Microscopy. - : Wiley - ISSN 0022-2720
Roč. 266, č. 3 (2017), s. 335-342Poč.str. 8 s. Forma vydání Tištěná - P Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova backscattered electrons ; information depth ; penetration of electrons Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika Obor OECD Materials engineering Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 UT WOS 000401526500011 EID SCOPUS 85014109419 DOI 10.1111/jmi.12542 Anotace The information depth of imaging with backscattered electrons in the scanning electron microscope was measured directly by comparison of a planar view of a steel sample with buried precipitates with an image of a section cut through precipitates by means of a Focused Ion Beam attachment. The information depth was determined across the electron energy range of units of keV and the results were compared with information depths calculated from two published equations and simulated using widely available Monte Carlo-based software. Recommendations are given for routine estimations of BSE information depths. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2018
Počet záznamů: 1