Počet záznamů: 1  

First experimental test of quadrupole lens-free multiple profile monitor technique for electron beam emittance measurement with a PW laser system

  1. 1.
    SYSNO ASEP0471582
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevFirst experimental test of quadrupole lens-free multiple profile monitor technique for electron beam emittance measurement with a PW laser system
    Tvůrce(i) Krůs, Miroslav (FZU-D) RID
    Levato, Tadzio (FZU-D)
    Kim, H. T. (KR)
    Grittani, Gabriele Maria (FZU-D) ORCID
    Margarone, Daniele (FZU-D) RID, ORCID
    Jeong, Tae Moon (FZU-D) ORCID
    Mocek, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Korn, Georg (FZU-D) RID, ORCID
    Číslo článku95151K
    Zdroj.dok.Research Using Extreme Light - Entering New Frontiers with Petawatt-Class Lasers II. - Bellingham : SPIE, 2015 / Korn G. ; Silva L.O. - ISSN 0277-786X - ISBN 978-1-62841-636-7
    Rozsah strans. 1-9
    Poč.str.9 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    AkceResearch Using Extreme Light - Entering New Frontiers with Petawatt-Class Lasers II
    Datum konání13.04.2015-15.04.2015
    Místo konáníPraha
    ZeměCZ - Česká republika
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.US - Spojené státy americké
    Klíč. slovalaser wakefield acceleration ; transverse emittance measurement
    Vědní obor RIVBL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
    CEPEE2.3.20.0279 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    ED1.1.00/02.0061 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    UT WOS000356920800025
    EID SCOPUS84946025984
    DOI10.1117/12.2179483
    AnotaceThe quadrupole lens free multiple profile emittance measurement method is an adaptation of the standard multiple profile monitor method for electron beam emittance measurement which was tested at PW laser system. This single shot technique allows to obtain the emittance from beam profile radii fit by means of Twiss (Courant-Snyder) parameters.
    Lanex scintillating screens were used as profile monitors due to their high yield of visible photons. However, on the other hand, the screen is a source of multiple Coulomb scattering which can influence the beam profile on the followingscreens at relatively low electron energies.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2017
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.