Počet záznamů: 1
In situ characterization of local elastic properties of thin shape memory films by surface acoustic waves
- 1.
SYSNO ASEP 0469096 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název In situ characterization of local elastic properties of thin shape memory films by surface acoustic waves Tvůrce(i) Grabec, T. (CZ)
Sedlák, Petr (UT-L) RID, ORCID
Stoklasová, Pavla (UT-L) RID, ORCID
Thomasová, M. (CZ)
Shilo, D. (IL)
Kabla, M. (IL)
Seiner, Hanuš (UT-L) RID, ORCID
Landa, Michal (UT-L) RIDCelkový počet autorů 8 Číslo článku 127002 Zdroj.dok. Smart Materials and Structures. - : Institute of Physics Publishing - ISSN 0964-1726
Roč. 25, č. 12 (2016)Poč.str. 7 s. Forma vydání Tištěná - P Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova thin films ; shape memory alloys ; surface acoustic waves Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP GA14-15264S GA ČR - Grantová agentura ČR Institucionální podpora UT-L - RVO:61388998 UT WOS 000388623800001 EID SCOPUS 84995608141 DOI 10.1088/0964-1726/25/12/127002 Anotace The impulse stimulated thermal scattering experimental technique is used for contactless in situ detection of phase transitions in thin nickel-titanium films deposited on silicon substrates. It is shown that this technique enables the. determination of the. local properties of the film over a fully coated wafer, in particular the thickness of the film and the temperature dependence of the. Young's modulus, and can. thus be. used for monitoring of the spatial distribution of the. functional properties in films prepared by a combinatorial sputtering approach. Pracoviště Ústav termomechaniky Kontakt Marie Kajprová, kajprova@it.cas.cz, Tel.: 266 053 154 ; Jana Lahovská, jaja@it.cas.cz, Tel.: 266 053 823 Rok sběru 2017
Počet záznamů: 1